JMTのRubber Socketは、半導体テスト工程で高い精密性と柔軟性を実現するよう設計されています。各デバイスや顧客の要望に応じた完全カスタム設計が可能で、多品種少量生産にも幅広く対応します。
1,000種類以上の製造レシピと蓄積されたエンジニアリング技術を基に、JMTは信頼性の高い高性能テストソリューションを提供します。

JMTとTFEは、グローバル市場で高い評価を受けるラバーソケットサプライヤーとして、半導体後工程における最終パッケージ検査用テストソケットを展開しています。
0.27mm・0.25mmの微細ピッチや20,000ピンを超える大型パッケージなど、最先端のテスト環境に対応する高性能コンタクトソリューションを提供しています。

Manual PCR Socket

PCR Burn-In Socket

吸引式PCR®ソケットは、特殊設計によりパッケージ上部への加圧を必要としないテストソケットです。上部圧力が許容されないデバイスでも安定したテストが可能です。従来のテストソケットは、LIDでパッケージ上部から加圧して通電する方式ですが、イメージセンサーなど上部に構造物を有するデバイスでは、LIDがテストの妨げとなる場合があります。吸引式PCR®ソケットはこの課題を解決し、上部加圧不要で高感度デバイスのテストに最適化されています。さらに、LIDを必要としない構造により、コスト低減にも貢献します。