PCR®の原理

PCR®は、シリコーンラバー内部に導電性金属粒子を配列した構造を採用し、優れた耐熱性、電気絶縁性、そして高い機械的耐久性を実現します。ラバーシートが装着されたソケット上に半導体製品を載せ、ソケットを閉じて圧力をかけると、導電性金属粒子が互いに強く押し合い接触し、通電が可能となります。金属粒子を配列する領域を被検査電極に合わせて設計することで、卓越した電気特性と機械的信頼性を実現し、安定した電気検査を支えます。

PCR®の利点

PCR®ソケットは、半導体テスト工程においてチップ性能を高精度に検証するための先進テストソリューションです。
従来のプローブピン方式と比較して電流損失を低減し、高速かつ安定した信号伝送を実現することで、テスト精度の向上に貢献します。

Principle of PCR operation

PCR®の可能性

PCR®は、微細ピッチ・高周波・超多ピンテストに最適化された独自構造を基盤に、次世代AI半導体、高帯域幅メモリ、先端パッケージング分野へと展開を拡大しています。
急速に進化する半導体テスト環境において、高い信頼性と高速データ伝送を実現する重要なインターフェースソリューションとして、その存在価値を高め続けています。